规格介绍：
完全最新设计的X-50是市场上表现最好的XRF，具有经典PiN二极管探测器技术。它为该检测器平台提供了一流的分析性能和速度，运行速度为其他品牌的2倍或更高。需要对合金（包括普通铝）进行优化分析。SciAps强大的小型化X射线管结合高度先进的内部几何结构，可以快速、精确地得到Ti和Bi之间一系列过渡元素和重金属元素的结果。

技术参数：
1、重量：小于1.5kg（含电池）

2、外观尺寸及特点：238mm x 283mm x 84mm；仪器测试头部尺寸：22mm（前端）x 45mm(中部) x 60mm（后部）既可以测常规金属样品，也可以深入测窄缝测样品。

3、激发源：高性能微型X射线光管，阳极靶材Rh靶；管电压最大40KV；管电流最大100uA；匹配功率4W（50kV可选）。

4、探测器：高性能，高精度，高灵敏度标准型Si-PIN二极管探测器；190eV 分辨率 FWHM，5.95Mn K-α线，探测器保护装置：可选配防扎装置，可以有效保护探测器。

5、制冷：采用了Peltier恒温冷却系统，控测器在-20℃下工作，保证仪器的检测精度，和不受外界温度的影响。

6、系统电子设备：14 位数模转换，80MSPS采样率，8K 通道 MCA，USB2.0高速数据传输至主处理器；FPGA应用数字滤波用于高吞吐量脉冲处理（50 nS - 24 uS 峰值时间）。

7、显示器：整机一体化设计，提高防尘,防雾,防水性能；显示器固定无旋转活动部件，故障率低；工业级高分辨率PowerVR SGX540 5英寸智能触摸屏，白光显示技术，无LCD高原反应，室內低光源与強光环境下也能有优异可視性，能耗低，比传统低一半白光显示增加各种环境的显示性能。

8、语言：多种语言选择，包括简体中/英文操作界面。

9、测试范围：从Ti-U之间标准配置31种元素检测，包括Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Y, Se, Zr, Nb, Mo, Pd, Ag, Au, Cd, Pb, Bi, Sn, Sb, W, Ta, Hf, Re等，可根据用户要求添加其他元素。

10、内置双摄像头：内部摄像头，用于在分析前和分析期间查看样品，以便正确对准样品；微距相机，用于扫描二维码或条形码以及照片文档和报告生成。

11、数据存储： 内存1GB DDR2 RAM，1GB NAND 8 GB eMMC（存储）。

12、数据传输与处理：ARM Cortex -A9 双核/1.2GHz ARM Cortex A53 64/32位，可通过蓝牙实时直接将仪器的测试结果共享到手机，现场就可以通过手机微信，QQ或邮箱将结果发给相关人员，方便快捷，提供沟通效率。

13、自动诊断与故障报告：可通过INTERNET远程诊断机器故障与升级软件，为客户提供及时服务

14、操作系统：用户化安卓系统，可通过专用App蓝牙连接手机或电脑 实现无线同步操作，无需借助电脑，可在现场查看，放大相关元素的光谱图。

16、工作温度：可适应-12°C ～ 55°C的环境温度。

17、电池：采用可充电的锂电池，电池一次充电可连续工作8小时以上，热插拔功能（最大交换时间60秒）。

18、建模软件：独特简单易操作的Profile Builder 建模软件；允许客户根据自已样品的特点二次开发独特的分析模型。

19、测量点射线光斑直径：3.5mm，光斑小，能提升小样品的检测性能，测焊缝时不需要额外配置准值器或适配器。